X-Ray Metrology

EDAX XLNCE SMX-ILH

XLNCE SMX-ILH XRF sistemi, kaplama kompozisyonunun hat içi atmosferik analizi ve sert ve esnek yüzeylerin kalınlık ölçümleri için entegre ve uzak modül konfigürasyonları sunan bir proses kontrol ve verim yönetimi platformudur. Bu sistem, kaplanmış malzemenin, motorlu, programlanabilir tek veya çift entegre ölçüm modülü aracılığıyla statik veya gradyan konumlarında tam panel analizi için ölçüm muhafazası içinden hareket etmesini sağlar.

Daha fazla bilgi için tıklayınız